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IEC PAS 62191:2000 EN Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components 被代替 发布日期 :  2000-11-28 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC PAS 62205:2000 EN High temperature storage life 被代替 发布日期 :  2000-11-28 实施日期 : 

   电子版：84元 / 折扣价： 76 元

IEC PAS 62207:2000 EN Hermeticity 被代替 发布日期 :  2000-11-28 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC 60747-14-2:2000 EN Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements 现行 发布日期 :  2000-11-09 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC 60191-6-3:2000 EN-FR Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP) 现行 发布日期 :  2000-09-29 实施日期 : 

   电子版：957元 / 折扣价： 862 元

IEC 60191-6-3:2000 EN_D Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP) 现行 发布日期 :  2000-09-29 实施日期 : 

   电子版：957元 / 折扣价： 862 元

IEC 60191-2Z:2000 EN-FR Twenty-fourth supplement - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions 现行 发布日期 :  2000-09-29 实施日期 : 

   电子版：167元 / 折扣价： 151 元

IEC PAS 62162:2000 EN Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components 被代替 发布日期 :  2000-08-22 实施日期 : 

   电子版：167元 / 折扣价： 151 元

IEC 60191-2X:1999 EN-FR Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions 现行 发布日期 :  1999-09-30 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

IEC 60191-2W:1999 EN-FR Twenty-first supplement 现行 发布日期 :  1999-07-29 实施日期 : 

   电子版：666元 / 折扣价： 600 元

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