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本标准规定了一种准确测量硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的方法，即X射线光电子能谱法（XPS）。本标准适用于热氧化法在硅晶片表面制备的超薄氧化硅层厚度的准确测量；通常，本标准适用的氧化硅层厚度不大于6 nm。
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本标准规定了通过测量接触角来检测玻璃表面疏水污染物的意义、应用、影响因素、试验装置、试剂和材料、试验步骤、结果解释等。本标准适用于通过测量接触角来检测玻璃表面的疏水污染物。
本标准规定了氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的高效液相色谱串联质谱测定方法。
本标准适用于氟化工产品和消费品中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的测定。氟化工产品包括含氟水性涂料、泡沫灭火材料、洗涤剂、织物整理剂；消费品特指不粘炊具。
标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计，氟化工产品为质量分数0.000 2％，消费品为0.4 μg/m2。
本标准规定了单成分物质、多成分物质和UVCB物质的命名通则。
本标准适用于REACH法规框架下的单成分物质、多成分物质和UVCB物质的命名。
本标准规定了化工产品使用说明书（以下简称使用说明书）的基本内容与编写方法。
本标准适用于除军事、化工机械与设备类的化工产品外的使用说明书的编写。
本标准规定了食品包装材料中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的高效液相色谱串联质谱测定方法。本标准适用于食品包装材料中全氟辛烷磺酰基化合物（PFOS）的测定。
本标准的方法检出限以全氟辛烷磺酸计,含量为0.4 μg/m2。
本标准详细说明了在SIMS深度剖析中，用多δ层参考物质评估前沿衰变长度、后沿衰变长度和高斯展宽三个深度分辨参数的步骤。
由于样品表面的物理和化学态受一次入射离子影响而不稳定，本标准不适用于近表面区域的δ层。
本标准定义的词汇适用于表面化学分析。
本标准采用辉光放电原子发射光谱法用于定量测定钢表面纳米、亚微米尺度薄膜（金属镀膜和氧化膜）中膜厚、镀层质量（单位面积）和薄膜中的元素深度分布。
本方法适用于测定3 nm~1 000 nm厚度的钢表面薄膜，适用的元素包括：铁、铬、镍、铜、钛、锰、铝、碳、磷、氧、氮和硅。
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