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本标准规定了计算机层析成像（CT)技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。本标准适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析，其他地质样品也可参照执行。
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本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
GB/T 37664的本部分规定了进行发光纳米材料量子效率可重复测量时遵循的步骤和注意事项。
本部分适用的发光纳米材料包括量子点、纳米荧光粉、纳米粒子、纳米纤维、纳米晶、纳米片和包含这些材料的结构体。发光纳米材料既可以分散在液相（例如，胶体量子点）也可以分散在固相（例如，含发光纳米粒子的纳米纤维）。本部分既规定了液态发光纳米材料量子效率的相对测量方法，也规定了固态和液态纳米材料量子效率的绝对测量方法。
本标准规定了一种准确测量印刷线路板PCB（printed circuit board）镀金手指表面污染物的方法--俄歇电子能谱法（AES）。本标准适用于具有一定导电性固体表面纳米尺度元素分布的准确测量。
本标准规定了硅酸盐中微颗粒铁的识别及其含量测量的俄歇电子能谱方法。本标准适用于30 nm 以上微颗粒铁的测量。
本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量，以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。
本标准规定了利用扫描电镜测量环境空气中石棉等无机纤维状颗粒计数浓度的方法。此方法同时利用X射线能谱分析技术（EDX）分析纤维状颗粒的元素组成，并根据此数据区分石棉纤维、硫酸钙纤维和其他无机纤维。本标准适用于环境空气中石棉等无机纤维状颗粒计数浓度的测定，也适用于建筑物内空气中石棉等无机纤维状颗粒计数浓度的检测。例如含石棉建筑材料拆除更换后，空气中残留石棉纤维状颗粒浓度的测定。如果检测时未发现纤维（纤维根数为0），此时其95%置信区间上限为2.99根。如果每平方厘米样品膜上通过1.0 m3空气，用扫描电镜分析这张膜上1.0 mm2面积，即通过被分析面积膜的空气体积为0.010 m3时，检出限大约是300根/m3纤维。滤膜试样上的纤维状颗粒浓度检测范围大约在3根/cm2～200根/cm2。空气中的浓度值（纤维根数/m3）取决于采样体积，可计算得出。注
本标准规定了使用透射电子显微镜对植物病毒进行形态学观察和鉴定的步骤、质量要求及鉴定报告的发布。本标准适用于各种类型透射电镜对植物病毒形态的观察和鉴定。
本标准规定了利用扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDS)观测环境空气中细粒子单颗粒形貌、定性分析元素，对环境空气颗粒物进行分类的方法。扫描电镜用于颗粒物的形貌观察和粒径测量，X射线能谱仪用于颗粒物主要元素定性分析。本标准适用于在电子束轰击下稳定的颗粒物分析，不适用于硝酸盐、铵盐等热不稳定的颗粒物分析。
本标准规定了通过并行接口或串行接口经由线缆、局域网、广域网络或其他通信线路将扫描探针显微镜（SPM)数据从计算机传输到计算机的格式。传输的数据采用出现在普通计算机显示器或打印机上的那些字符进行编码。该格式是为SPM的数据设计的，例如扫描隧道显微镜（STM)、原子力显微镜（AFM)和使用在样品表面上扫描的尖锐探针的相关表面分析方法。本格式涵盖了由单通道成像、多通道成像和单点谱得到的数据，在未来版本中可扩展至二维谱成像。
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