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本标准规定了使用电子探针波谱法进行元素面分析的方法。本标准规范了移动电子束对试样扫描的面分析（电子束面分析）和移动试样台的面分析（大面积面分析）两种模式的选择，给出了五种数据处理的方式：原始X射线强度法、K值法、校正曲线法、对比法和基体校正法。
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本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309［2］和 ASTM E1508［3］中已有规范，不在本标准范围之内。
本标准规定了植物中游离氨基酸的测定方法，包括全自动氨基酸分析仪法（第一法)和高效液相色谱仪法（第二法)两种方法。
本标准适用于茶叶、中药材、烟叶等植物样品中的游离氨基酸的测定。
本标准规定了高通量基因测序技术的术语与定义，测序的原理、技术指标、相关主要仪器、测序试剂及配制和测序方法的要求。
本标准适用于对动物组织、血液、粪便、口腔黏膜、毛发、植物组织、土壤、微生物等生物样品进行高通量基因测序。
本标准适用于单向测序、双向测序、混合样品测序三种类型的测序，也适用于表达谱测序、ChIP测序、癌症研究和分型、miRNA测序、微生物元基因组、病菌种类的检测、免疫学和免疫疾病工作、甲基化测序、序列多态性检测、临床基因诊断、个性化测序和基因组测序。
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能谱仪(EDS),测量比例因子KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。
本标准提供了表面化学分析样品安装和表面处理方法的指导。目的是帮助分析人员理解在使用俄歇电子能谱、二次离子质谱和X射线光电子能谱等表面分析技术进行分析时，所必需的专门样品处理条件。
本标准规定了硅片工作标准样品表面元素铁和/或镍的化学收集方法（气相分解法或直接酸性液滴分解法）和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定。
本标准规定了在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析中相对灵敏度因子的实验测量和使用指南。
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南，使测量数据具有较高的可靠性和重复性，本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。
本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析。
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