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本标准规定了电子探针仪（EPMA）和扫描电子显微镜（SEM）的X射线波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）对硅酸盐玻璃的定量分析方法。〖HJ*3/5〗
本标准适用于硅酸盐玻璃试样（包括碱金属的硅酸盐玻璃）的波谱法(WDX)和能谱法(EDX)的定量分析。
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本标准规定了用扫描电子显微镜及能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。
本标准主要用于石油、天然气沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。
本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。
本标准规定了如何描述X射线光电子能谱仪的特定性能。
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。
本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求。本标准适用于表面化学分析设备的用户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求，特别是俄歇电子能谱（AES）、二次离子质谱（SIMS）和X射线光电子能谱（XPS或ESCA）。
本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术，如TXRF。对于特定的实例，特定的样品，需要更加注意。
本标准规定了固体有机化学品纯度测定的差示扫描量热法。
本标准适用于具有明确熔点的热稳定固体有机化学品的纯度测定，其给出的是试样中杂质的总含量，而不能得出单一杂质的含量。
本标准规定了差示扫描量热法测定熔点的原理、仪器设备、分析步骤、试验报告及精度。
本标准适用于具有明确熔点的热稳定性有机化学品的熔点测定。
本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1 μm的仪器。栅格法适合于横向分辨率预期值大于20 nm，小于1 μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50 nm的仪器。
附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。
本标准规定了常规分析中一种评估X射线光电子能谱仪强度标的重复性和一致性的方法，采用非单色Al/Mg或单色Al X射线源。本标准只适用于装有溅射离子枪的仪器。本标准不做强度/能量响应函数的校准。此校准应由仪器制造厂家或其他合格机构完成。本标准提供的数据用于评估和确认仪器使用期间强度/能量响应函数保持恒定的准确度。本标准提供了一些可能会影响一致性的仪器设置指导意见。
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