本文件规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测量钨铁中的钴、镍、铝含量。
本文件适用于钨铁中钴、镍、铝含量的测定。测定范围(质量分数)：0.010%～5.00%。

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本文件描述了采用红外线吸收法、气体容量法、重量法和库仑法测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中的碳含量的方法。本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中碳含量的测定。测定范围（质量分数）：方法一为0.010%~10.00%；方法二为0.40%~5.00%，不适用于氮化锰铁和金属锰中碳含量的测定；方法三为4.00%~8.00%，适用于高碳锰铁中碳含量的测定；方法四为0.010%~0.40%，仅适用于金属锰中碳含量的测定。

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本文件描述了采用波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中锰、硅、铁、磷的含量的方法。本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中锰、硅、铁、磷含量的测定，各元素测定范围见表1。

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本文件描述了采用铋磷钼蓝分光光度法测定硅铁中的磷含量的方法。
本文件适用于硅铁中磷含量的测定。测定范围（质量分数）为：0.010％～0.060％。

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本文件描述了用电感耦合等离子体质谱法测定镧、铈、镨、钕、钐含量的方法。本文件适用于铸铁、钢和高温合金中质量分数为0.000 1%～0.010 0%的镧、镨、钐和质量分数为0.000 2%～0.010 0%的铈、钕含量的测定。

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本文件描述了用火花源原子发射光谱法测定镍铁中碳、硫、硅、磷、镍、钴、铬和铜含量。
本文件适用于镍铁产品化学成分的常规分析，各元素的测定范围见表1。

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本文件描述了采用红外线吸收法和燃烧中和滴定法测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中的硫含量的方法。
本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中硫含量的测定。方法一测定范围（质量分数）：0.003% ~0.120%；方法二测定范围（质量分数）：0.015% ~0.120%。方法二不适用于氮化锰铁中硫含量的测定。

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本文件描述了采用电位滴定法、硝酸铵氧化滴定法和高氯酸氧化滴定法测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中的锰含量的方法。本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中锰含量的测定，测定范围(质量分数):50.00%~98.00%。 方法一不适用于铬、钒含量(质量分数)大于0.4%的锰铁、锰硅合金、氮化锰铁及金属锰中锰含量的测定。

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本文件规定了采用钼蓝分光光度法、氟硅酸钾滴定法和高氯酸重量法测定锰铁、锰硅合金、微低碳锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中的硅含量。
本文件适用于锰铁、锰硅合金、微低碳锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中硅含量的测定。测定范围（质量分数）：0.10%～40.00%。方法一：钼蓝分光光度法，适用于金属锰中硅含量的测定，测定范围（质量分数）0.10%～2.00%；方法二：氟硅酸钾滴定法，适用于锰硅合金、微低碳锰硅合金中硅含量的测定，测定范围（质量分数）12.00%～40.00%；方法三：高氯酸重量法，适用于锰铁、锰硅合金、微低碳锰硅合金、氮化锰铁、金属锰中硅含量的测定，测定范围（质量分数）0.50%～40.00%。

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〓〓本文件描述了采用钼蓝分光光度法和铋磷钼蓝分光光度法测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中的磷含量的方法。本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中磷含量的测定。测定范围（质量分数）：0.003 0%～0.650%。方法一：钼蓝分光光度法，适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中磷含量的测定，测定范围（质量分数）：0.003 0%～0.450%；方法二：铋磷钼蓝分光光度法，适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中磷含量的测定，测定范围（质量分数）：0.003 0%～0.650%。

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