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GB/T 39771的本部分规定了半导体发光二极管(以下简称LED)的光辐射安全要求与危险等级分类方法。
本部分适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域(300 nm~780 nm)的单芯片或多芯片LED。
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GB/T 39771的本部分规定了半导体发光二极管（以下简称LED）的光辐射安全的一般要求、测试要求、测试方法。
本部分适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域（300 nm～780 nm）的单芯片或多芯片LED。
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。
本标准适用于功率半导体发光二极管芯片。
本标准规定了中功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。
本标准适用于中功率半导体发光二极管芯片。
本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一。
本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一
本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一。
本标准规定了空间科学照明用LED（Light Emitting Diode）筛选项目和程序、筛选方法、参数测量和合格判定。本标准适用于空间科学照明用额定功率1 W和1 W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行。
本文件规定了有机发光二极管(OLED)显示模块及显示屏的视觉质量和亮室性能的标准测试条件和测试方法。
本文件主要适用于彩色显示模块。
本文件描述了液晶显示（LCD)器件用玻璃强度和可靠性的试验方法。
本文件适用于所有LCD类型，包括透射型、反射型或半反半透型的LCD模块，模块采用字段、无源或有源矩阵，非彩色或彩色型LCD，以及是否自带集成光源。
本文件为LCD参数的准确可靠测试提出统一的要求：
a） 准静态强度；
b） 准静态疲劳。
本文件描述的方法适用于所有尺寸，包括小尺寸和大尺寸的LCD器件。
注：本文件中描述的测量疲劳常数的方法源自参考文献[1]~[8]。主要的结果是对规定寿命期内预估的许用应力或者规定应力水平下预估的失效率的计算公式。如LCD玻璃强度和疲劳行为的有限数据见附录A。同样的，也包含了LCD模块静态强度的数据，并与基板玻璃进行比较。
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