GB/T 15972的本部分规定了确定光纤样品抗张强度值的试验方法，本部分的目的是要对光纤的机械特性——抗张强度建立一个统一的技术要求。 本部分适用于A1、A2、A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了沿光纤纵轴向定量地机械剥去保护涂覆层所需的力的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于A1类、A2类、A3类和B类具有标称外直径为250 μm~900 μm范围内的聚合物作外被覆层的光纤的测量。 本部分不适用于实际直径230 μm~930 μm范围之外的聚合物作外被覆层的光纤。

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GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤翘曲或固有曲率半径的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于A1类多模光纤带宽的测量和成品光纤光缆的商业性检验。本部分不适用于B类单模光纤带宽的测量。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤波长色散的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类多模光纤和B类单模光纤波长色散的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对A1类、A2类多模光纤数值孔径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。对A3类﹑　A4类多模光纤数值孔径的测量也可参照使用。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。 本部分适用于对B类单模光纤模场直径的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了透光率变化的监测方法和试验程序。 本部分适用于所有B类单模光纤和A类多模光纤成品光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了测量光纤宏弯敏感性的统一要求。　　 本部分适用于测量B类单模光纤在1550nm或1625nm波长及A1类多模光纤在850nm和（或）1300nm波长的宏弯损耗，以检验光纤在规定波长上的宏弯敏感性。本部分适用于光纤光缆的商业性检验。

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GB/T 15972的本部分规定了光纤微分模时延的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。　　 本部分适用于A1类渐变折射率多模光纤微分模时延的测量和成品光纤光缆的商业性检验。　　 本部分确定的试验方法一般应用于生产工厂和研究院所，但不适合在野外操作。

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