17704692435
GB/T 7424的本部分规定了光缆元构件的各试验方法的目的、试样、设备、程序、要求和待规定细节等。
本部分适用于光缆和光电混合缆中的光缆元构件。
电子版：54元
/ 折扣价：
46 元
GB/T 15972的本部分规定了确定光纤样品抗张强度值的试验方法，该方法可测试不同长度的成缆前光纤。本部分的目的是要对光纤的机械特性——抗张强度的测量建立一个统一的技术要求。
本部分适用于A1、A2、A3类多模光纤和B类、C类、D类单模光纤的测量。
GB/T 15972的本部分规定了测量光纤宏弯损耗的方法概述、装置、试样和试样制备、程序、计算和结果的技术要求。
本部分适用于测量B类单模光纤在1 550 nm或1 625 nm波长的宏弯损耗，A1类多模光纤在850 nm或1 300 nm波长的宏弯损耗，以及A3类和A4类多模光纤在650 nm、850 nm或1 300 nm波长的宏弯损耗。
GB/T 15972的本部分规定了光纤特性测量方法和试验程序的通用要求，包括修约规则、测量和试验分类、测量和试验的标准大气条件、校准准则、基准试验方法、光纤分类、试样制备、测量方法和试验程序、包装和标志。本部分适用于A类多模光纤、B类单模光纤以及C类单模光纤和光缆。
GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法，包括术语、定义和符号，确立了测量方法概述、基准试验方法、装置、试样、程序、计算和结果的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于A类多模光纤、B类单模光纤和C类单模光纤。
GB/T 15972的本部分规定了施加规定张力进行连续长度光纤的筛选试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。
本部分适用于A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤。
GB/T 15972的本部分给出了测量未涂覆光纤翘曲或固有曲率半径的试验方法，规定了试验装置、样品制备、程序、计算、结果的统一要求。本部分适用于A1﹑A2﹑A3类多模光纤和B类单模光纤。
GB/T 15972的本部分规定了多模光纤带宽的试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的技术要求。本部分适用于A1、A3、A4类多模光纤带宽的测量。
GB/T 15972的本部分规定了光纤数值孔径的试验方法，确立了对试验装置、样品制备、程序、计算和结果的统一要求。本部分适用于A1类﹑A2类、A3类﹑A4类多模光纤和光缆。
GB/T 15972的本部分规定了光纤模场直径的试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于B类单模光纤模场直径的测量。
对不起，暂未有相关搜索结果！
