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本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10-9 m~0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
本标准是用电子探针或者扫描电镜中的波谱仪获得试样特定体积内(μm 3尺度)的X射线谱,进行元素鉴别和确认特定元素存在的一种标准方法。
GB/T 20245的本部分的目的是: ——规定与用于测量溶液(通常是水溶液)某些特性的电化学分析器性能特性有关的术语和定义; ——规定描述此类分析器性能特性的统一方法; ——〗规定用于检测和验证电化学分析器性能特性的通用试验程序,并考虑到与IEC 60359:2001、GB/T 17614.1、GB/T 18271.1—2000中规定的试验方法的差异; ——提供基础文件,支持GB/T 19001质量管理体系标准的应用。
本文件规定了电子探针显微分析仪(电子探针)定量分析的仪器设备、标准样品、试样制备、测量前的准备、测量条件的选择、测量过程、电子束入射电流的测量、各元素质量分数的计算、测量不确定度的评定和结果报告。
本文件适用于电子探针对试样中各元素的定量测量及数据处理,带有波谱仪的扫描电镜的定量分析参照执行。
本文件描述了用于电子探针分析的金属与合金块状试样的制备方法。
本文件适用于电子探针或配备能谱或波谱仪的扫描电镜定量分析用的标准样品和试样。
本文件不适用于制备颗粒度小于5 μm或厚度小于4 μm的试样。