【国家标准】 精细陶瓷　晶粒尺寸和尺寸分布的测定方法

本文件描述了使用样品抛光并腐蚀后显现出晶界的显微结构照片来测定精细陶瓷晶粒尺寸的手工测量方法。本方法不能得到真实的平均晶粒尺寸，而是得到一个略小的参数，具体取决于用于分析二维截面的方法。本方法测定结果与真实晶粒尺寸的关系取决于晶粒形状和微观结构的各向异性程度。本文件包含两类方法：方法A和方法B。
方法A是平均线性截距法，分为方法A1和方法A2。方法A1适用于单相致密陶瓷，以及主要晶相和玻璃晶界相体积分数小于约5%的陶瓷，此时截距计数已足够。方法A2适用于孔隙或第二相体积分数大于约5%的陶瓷，或具有多个主要晶相的陶瓷，此时需要测量单个截距长度，并可选择用于尺寸分布的测定。方法A2基于区分气孔或物相之间显微结构差异分别计算得到其平均线性截距。
注：ISO 13383-2给出了第二相体积分数的测定方法。
方法B为平均等效圆直径法，该方法适用于所有类型的陶瓷材料(无论是否存在第二相)晶粒尺寸、晶粒长径比和尺寸分布的测定。
一些用户对显微照片或直接捕获的显微结构图像应用自动或半自动图像分析，只要所采用的技术模拟人工方法(见第4章和8.4)，就满足本文件。
本文件适用于单相陶瓷材料、晶须和(或)颗粒增强的复相陶瓷材料晶粒尺寸和尺寸分布的测定。