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- GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

【国家标准】 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
本网站 发布时间:
2018-04-02
- GB/T 14142-2017
- 现行
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适用范围:
本标准规定了用化学腐蚀显示,并用金相显微镜检验硅外延层晶体完整性的方法。本标准适用于硅外延层中堆垛层错和位错密度的检验,硅外延层厚度大于2 μm,缺陷密度的测试范围0~10 000 cm-2。
标准号:
GB/T 14142-2017
标准名称:
硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
英文名称:
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique标准状态:
现行-
发布日期:
2017-11-01 -
实施日期:
2018-04-01 出版语种:
中文简体
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