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【国家标准】 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
本网站 发布时间:
2024-01-02
- GB/T 43226-2023
- 现行
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标准号:
GB/T 43226-2023
标准名称:
宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
英文名称:
Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit标准状态:
现行-
发布日期:
2023-09-07 -
实施日期:
2024-01-01 出版语种:
中文简体
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