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- GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

【国家标准】 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
本网站 发布时间:
2022-07-01
- GB/T 20724-2021
- 现行
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适用范围:
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注: 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。
标准号:
GB/T 20724-2021
标准名称:
微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文名称:
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction标准状态:
现行-
发布日期:
2021-12-31 -
实施日期:
2022-07-01 出版语种:
中文简体
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