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- GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

【国家标准】 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
本网站 发布时间:
2014-11-14
- GB/T 30860-2014
- 现行
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适用范围:
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。
标准号:
GB/T 30860-2014
标准名称:
太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法
英文名称:
Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells标准状态:
现行-
发布日期:
2014-07-24 -
实施日期:
2015-04-01 出版语种:
中文简体
起草人:
徐自亮 任皓 陈佳洵 李锐 孙燕 熊金杰 杨素心 蒋建国 王丽华 薛抗美 黄黎起草单位:
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)提出部门:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)发布部门:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
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