- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- H21 >>
- GB/T 13789-2022 用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法

【国家标准】 用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法
本网站 发布时间:
2024-01-23
- GB/T 13789-2022
- 现行
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 13789-2022
标准名称:
用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法
英文名称:
Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel strip and sheet by means of a single sheet tester标准状态:
现行-
发布日期:
2022-10-12 -
实施日期:
2022-10-12 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- 国家标准计划
- GB/T 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
- GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
- GB/T 43315-2023 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法
- GB/T 23365-2023 钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 43092-2023 锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法
- GB/T 43093-2023 镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 43096-2023 金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
- GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
- GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
- GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
- GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
- GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法
- GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法