- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- H21 >>
- GB/T 42161-2022 磷酸铁锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法

【国家标准】 磷酸铁锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
本网站 发布时间:
2023-04-03
- GB/T 42161-2022
- 现行
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 42161-2022
标准名称:
磷酸铁锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
英文名称:
Electrochemical performance test of lithium iron phosphate—Test method for the initial discharge specific capacity and the initial efficiency标准状态:
现行-
发布日期:
2022-12-30 -
实施日期:
2023-04-01 出版语种:
中文简体
起草人:
冯庆 吴怡芳 贾波 孙言 陈燕玉 胡淑婉 张勤才 凌仕刚 李文强 董国宇 史建成 戴海桃 唐红辉 刘远见 訚硕 徐浩 刘亚飞 于鹏 黄小燕 王勤 陈建军 田勇 李心雨 刘玮 沈雪玲起草单位:
西安泰金工业电化学技术有限公司、西北有色金属研究院、深圳市德方纳米科技股份有限公司、合肥国轩高科动力能源有限公司、天津国安盟固利新材料科技股份有限公司、蜂巢能源科技股份有限公司、广东邦普循环科技有限公司、西安亚弘泰新能源科技有限公司、贵州中伟兴阳储能科技有限公司、北京当升材料科技股份有限公司、湖北万润新能源科技股份有限公司、深圳清研装备科技有限公司、万华化学集团股份有限公司、湖南长远锂科股份有限公司、国联汽车动力电池研究院有限责任公司归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)提出部门:
中国有色金属工业协会发布部门:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
- 推荐标准
- 国家标准计划
- GB/T 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
- GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
- GB/T 43315-2023 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法
- GB/T 23365-2023 钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 43092-2023 锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法
- GB/T 43093-2023 镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法
- GB/T 43096-2023 金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积
- GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
- GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
- GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
- GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
- GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
- GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
- GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法
- GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法